Pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 gambaran umum:
1, menggunakan kerangka aluminium, kompak, portabel, kuat dan tahan lama, cocok untuk lingkungan operasi yang keras, anti-getaran, guncangan dan gangguan elektromagnetik; Antarmuka menggunakan teknologi canggih asing tahan lama tidak mudah rusak;
2, ada sepuluh jenis pengujian kepala untuk dipilih, bagian kontak pengujian kepala dilapisi keras kromium atau rubi, tahan lama;
3, memiliki kalibrasi titik nol, kalibrasi titik, kalibrasi titik dua, dan dapat menggunakan metode kalibrasi dasar untuk memperbaiki kesalahan sistem pengujian kepala;
4, memiliki fungsi status pengukuran; Ada tampilan latar belakang EL, mudah digunakan di lingkungan yang gelap cahaya;
5, standby panjang lebih dari 200 jam, memiliki fitur indikasi daya sisa, dapat menampilkan daya sisa baterai secara real time; Memiliki hibernasi otomatis, pemadaman otomatis dan fungsi penghematan listrik lainnya; Tidak perlu mengganti baterai
20 kelompok penyimpanan besar (setiap kelompok dapat menyimpan 50 nilai pengukuran) dengan antarmuka komunikasi USB yang dapat terhubung ke komputer, dapat mentransfer nilai pengukuran ke komputer;
　　Penggunaan utama:
MCT200 portabel pelapis (pelapis) membran lapisan pengukur ketebalan adalah kristal teknologi canggih, yang menggunakan teknologi chip tunggal, presisi tinggi, layar tinggi, tampilan digital, nilai indikasi stabil, responsif, konsumsi daya rendah, operasi sederhana dan nyaman, tanpa tombol koreksi, pengukuran skala penuh probe tunggal, volume kecil, berat ringan, keindahan yang murah hati; Dan dengan penyimpanan, pembacaan, indikasi tegangan rendah, kinerja mencapai tingkat canggih dari instrumen serupa internasional kontemporer, dapat dengan cepat, tanpa kerusakan, pengukuran ketebalan lapisan dan lapisan dengan presisi, dan juga dapat melakukan pengukuran ketebalan film tipis. Instrumen ini dapat digunakan secara luas di industri manufaktur, industri pengolahan logam, industri kimia, inspeksi komersial dan bidang pengujian lainnya, adalah instrumen yang diperlukan untuk perlindungan material profesional. Dapat digunakan baik di laboratorium maupun di lokasi rekayasa.
　　Fitur utama:
1, Ada sepuluh jenis pengukur kepala untuk dipilih, bagian kontak pengukur kepala dilapisi kromium keras atau rubi, tahan lama;
2. Pengenalan Otomatis Probe
3, dapat membaca data pengukuran di lokasi pengukuran apapun, menggunakan pilihan menu ponsel, operasi sangat mudah.
4, dapat mengatur batas atas dan bawah, saat hasil pengukuran lebih besar dari sama dengan batas atas dan bawah, instrumen akan mengeluarkan suara yang sesuai atau lampu berkedip.
Stabilitas yang sangat tinggi, tidak perlu dikoreksi untuk digunakan jangka panjang.
Dapat menghapus satu atau lebih data
7, Ada petunjuk berdering selama operasi
8, membuat kesalahan melalui tampilan layar atau bunyi berdering
Ada lima statistik: rata-rata (MEAN), maksimum (MAX), minimum (MIN), jumlah pengujian (NO.), standar deviasi (S.DEV).
Dengan memilih kepala pengukur yang sesuai, Anda dapat mengukur ketebalan lapisan penutup non-magnetik pada substrat logam magnetik dan juga dapat mengukur ketebalan lapisan penutup non-konduktif pada substrat logam non-magnetik;
11, memiliki kalibrasi titik nol, kalibrasi titik, kalibrasi titik dua, dan dapat menggunakan metode kalibrasi dasar untuk memperbaiki kesalahan sistem pengujian kepala;
12, memiliki fungsi peringatan status pengukuran;
13, memiliki tampilan latar belakang EL, mudah digunakan dalam lingkungan yang gelap cahaya;
14, memiliki fitur indikasi daya sisa, dapat menampilkan daya sisa baterai secara real time;
15, memiliki hibernasi otomatis, pemadaman otomatis dan fungsi penghematan listrik lainnya;
Dengan antarmuka komunikasi USB1.1, dapat mentransfer nilai pengukuran ke komputer PC.
17, dapat dilengkapi dengan perangkat lunak komputer mikro, dengan fitur kaya seperti pengiriman hasil pengukuran, manajemen penyimpanan pengukuran, analisis statistik pengukuran, cetak laporan pengukuran;
18, menggunakan kerangka aluminium, kompak, portabel, kuat dan tahan lama, cocok untuk lingkungan operasi yang keras, anti-getaran, guncangan dan gangguan elektromagnetik;
　　Memenuhi standar berikut:
GB/T 4956-2003 Lapisan non-magnetik pada substrat magnetik Pengukuran ketebalan lapisan
GB/T 4957-2003 Pengukuran ketebalan lapisan non-konduktif pada substrat logam non-magnetik
◇ JB/T 8393-1996 Pengukur ketebalan lapisan magnetik dan arus vortex
JG 818-2005 Pengukur ketebalan lapisan magnetik dan arus turbin listrik
　　Prinsip kerja:
Instrumen ini menggunakan dua metode pengukuran ketebalan magnetik dan arus pusaran, induksi magnetik dapat digunakan untuk mengukur lapisan pelapis non-magnetik (seperti cat, lapisan proteksi, lapisan galvanis, lapisan tembaga, dll) pada semua substrat magnetik (seperti baja, besi). l
Pengukur ketebalan lapisan arus pusaran dapat digunakan untuk mengukur lapisan non-konduktif (seperti cat, lapisan anti-korosi, film oksida) di atas semua logam non-magnetik (seperti tembaga, aluminium, stainless steel).
　Parameter teknis:
Rentang pengukuran: (0 ~ 1250) μm (kepala pengukuran F1, N1), kepala pengukuran F10 dapat mencapai 10mm;
Resolusi: 0,1 μm (F1, N1)
◇ Akurasi indikasi: ± (3% H + 1) μm; H adalah ketebalan lapisan yang diukur
◇ Metode tampilan: tampilan kristal cair dengan kontras tinggi, cahaya latar EL kecerahan tinggi;
◇ Kapasitas penyimpanan: dapat menyimpan data pengukuran 20 kelompok (maksimal 50 pengukuran per kelompok)
◇ Sistem unit: Metrik (μm), Inggris (mil), dapat dikonversi secara bebas
◇ Tegangan kerja: 3V (baterai alkali nomor 5 2 bagian)
Waktu kerja: lebih dari 200 jam (tanpa lampu latar belakang)
◇ Interface komunikasi: USB1.1, dapat terhubung dengan PC, komunikasi
◇ Ukuran luar: 125mm x 67mm x 31 mm
Berat keseluruhan: 340g

---------------------------------------------------------------------------------------------------------------
　　Baca lebih lanjut:

　　Faktor dan solusi yang mempengaruhi nilai pengukuran pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200
Menggunakan pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 sama seperti menggunakan instrumen lainnya, Anda perlu menguasai kinerja instrumen dan memahami kondisi pengujian. Pengukur ketebalan lapisan menggunakan prinsip magnetik dan prinsip arus pusaran didasarkan pada karakteristik listrik, magnetik dan jarak dari probe untuk mengukur ketebalan lapisan, sehingga karakteristik elektromagnetik dan ukuran fisik subyek mempengaruhi ukuran magnetik dan arus pusaran listrik. Yang mempengaruhi keandalan nilai pengukuran, berikut ini adalah pengenalan tentang masalah ini.
1. jarak perbatasan
Jika jarak antara probe dan perbatasan objek, lubang mata, rongga, perubahan bagian lainnya lebih kecil dari jarak perbatasan yang ditentukan, karena kurangnya bagian pembawa magnetik atau arus pusaran akan menyebabkan kesalahan pengukuran. Jika ketebalan lapisan titik harus diukur, hanya dapat diukur jika dikalibrasi sebelumnya pada permukaan tanpa lapisan dalam kondisi yang sama. (Catatan: Produk pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 terbaru memiliki fitur unik kalibrasi lapisan hingga akurasi 3-10%)
2. Kelengkung permukaan substrat
Kalibrasi nilai awal pada sampel kontras yang rata dan kurangi nilai awal ini setelah mengukur ketebalan lapisan. Atau lihat artikel berikut.
Ketebalan minimal logam
Metal substrat harus memiliki ketebalan minimum yang diberikan, sehingga medan elektromagnetik probe dari pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 dapat sepenuhnya dimasukkan dalam logam substrat, ketebalan minimum terkait dengan kinerja pengukur dan sifat substrat logam, ketebalan ini hanya dapat diukur tanpa koreksi nilai pengukuran. Pengaruh dari ketebalan substrat yang tidak cukup, dapat diambil langkah-langkah untuk menempel sepotong bahan yang sama di bawah substrat untuk dihilangkan. Jika sulit ditentukan, atau tidak dapat menambahkan substrat, perbedaan dengan nilai nominal dapat ditentukan dengan membandingkan dengan sampel dengan ketebalan lapisan yang diketahui. Dan mempertimbangkan hal ini dalam pengukuran dan membuat perbaikan yang sesuai pada nilai pengukuran atau merujuk pada perbaikan Pasal 2. Instrumen yang dapat dikalibrasi dapat mendapatkan ketebalan yang tepat dengan menyesuaikan tombol atau tombol. Sebaliknya, penggunaan ketebalan terlalu kecil dapat mengembangkan ketebalan foil tembaga langsung pengukur ketebalan, seperti yang disebutkan sebelumnya.
4. Kekasaran permukaan dan kebersihan permukaan
Beberapa pengukuran harus dilakukan pada permukaan kasar untuk mendapatkan nilai pengukuran rata-rata yang representatif. Jelas, baik substrat atau lapisan, semakin kasar, semakin tidak dapat diandalkan nilai pengukuran. Untuk mendapatkan data yang dapat diandalkan, kasaran rata-rata substrat Ra harus kurang dari 5% dari ketebalan lapisan. Sedangkan untuk kotoran permukaan, harus dihilangkan. Beberapa MCT200 portabel lapisan ketebalan pengukur batas atas dan bawah untuk menghilangkan mereka "titik terbang".
5. Pengaruh panel pengukuran probe
Kekuatan saat pengukuran probe harus konstan. Dan harus setidaknya mungkin. Tidak membuat lapisan lembut berubah sehingga nilai pengukuran menurun. Hidup menghasilkan fluktuasi besar, jika diperlukan, dapat memasang lapisan keras di antara keduanya, untuk pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 tidak konduktif, dengan ketebalan film keras tertentu. Dengan demikian, dengan mengurangi ketebalan film tipis, magnet sisa dapat diperoleh dengan tepat.
6. medan magnet konstan luar, medan elektromagnet dan magnet sisa substrat
Pengukuran dengan pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200 harus dihindari di dekat medan magnet luar yang memiliki efek gangguan. Sisa magnet, tergantung pada kinerja detektor dapat menyebabkan lebih atau kurang kesalahan pengukuran, tetapi seperti baja struktural, pelat baja pembentukan dalam, dll umumnya tidak akan muncul fenomena di atas.
7. Komponen ferromagnetik dan komponen konduktif dalam bahan lapisan
Kehadiran komponen ferromagnetik tertentu dalam lapisan, seperti pigmen tertentu, akan mempengaruhi nilai pengukuran pengukur ketebalan lapisan portabel MCT200, dalam hal ini, lapisan sampel kontras yang digunakan sebagai kalibrasi harus memiliki karakteristik elektromagnetik yang sama dengan lapisan yang diukur, setelah kalibrasi digunakan. Metode yang dapat digunakan adalah dengan melapisi lapisan yang sama pada sampel aluminium atau tembaga dan mendapatkan sampel standar kontras setelah diuji dengan metode arus vortex listrik. Juga dapat dibeli dari departemen pengujian yang relevan.